Все новости
02.02.2022 - 03.02.2022Наука

Научно-практический семинар "Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000 с интегрированной системой элементного микроанализа"


 

Уважаемые коллеги!
Белорусский государственный технологический университет
при участии компаний JEOL Ltd. (Япония) и Interactive Corporation (Япония) 
приглашает Вас  на научно-практический семинар
"
Применение новой модели настольного сканирующего электронного микроскопа JCM-7000
с интегрированной системой элементного микроанализа"

Дата проведения: 2 и 3 февраля 2022 г (среда, четверг)
Место проведения: Белорусский государственный технологический университет г. Минск, ул. Свердлова 13 а., корпус 4, аудитория 114

Для регистрации просим прислать заполненную регистрационную анкету
Ильину Александру 
info@intactive.ru +7(495) 748 20 07, +7(916) 324 88 45

Предлагаем провести исследование ваших образцов на настольном сканирующем электронном микроскопе JEOL. В случае заинтересованности просим до 28 января 2022 года заполнить нижеприведённую регистрационную анкету с обязательным кратким описанием ваших образцов (материал, размер, степень подготовки и т. д.) и прислать её на почту info@intactive.ru

Участие в семинаре бесплатное.
Будем рады Вас видеть на семинаре!
По всем вопросам регистрации на семинар просим обращаться к Ильину Александру info@intactive.ru

+7(495) 748 20 07, +7(916) 324 88 45

 

Приглашение и регистрационная анкета 

Программа семинара



Автор: Кучерова Д. В.
Просмотры: 257
Если вы заметили ошибку в тексте, пожалуйста, выделите её и нажмите Ctrl+Enter