РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ СИНТЕТИЧЕСКОГО АЛМАЗА, ОБЛУЧЕННОГО ЭЛЕКТРОНАМИ
Научная публикация
РЕНТГЕНОДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКИЕ ИССЛЕДОВАНИЯ СИНТЕТИЧЕСКОГО АЛМАЗА, ОБЛУЧЕННОГО ЭЛЕКТРОНАМИ
Автор(ы): Е. М. Шишонок, В. Г. Лугин
УДК: 535.36;535.37;584.4;537.26
Год издания: 2015
Дата загрузки: 03.02.2016
Загрузил(а): Левитская А. А.

Описание:
Развиты представления о радиационной стойкости синтетического алмаза (СА) из ис-
следований рентгенодифрактометрических (РД) спектров СА в форме порошков АС2 различной
зернистости с разной прочностью, синтезированных в одном синтезе в каталитической системе
Ni – Mn, облученных электронами с энергией 6,5 МэВ дозами D = 2 · 1019 и 8 · 1019 см–2.
РД-спектры СА получены на высокоразрешающем дифрактометре D8 Аdvance Bruker AXS с ис-
пользованием опций вращения образца, малой скорости регистрации РД-спектров (0,01°/мин), а
также высокой точности определения положения их линий (Δθ = ±0,0001°).
Установлено, что в соответствии с существующими представлениями о расщеплении линий
РД-спектра кристаллического объекта с искаженной кубической кристаллической структурой,
кристаллическая решетка СА в форме порошков является искаженной, аналогично cBN, активи-
рованному примесями. Выявлено, что облучение СА в форме порошков дозой D = 2 · 1019 см–2
приводит к совершенствованию кристаллической решетки СА в корреляции с исходной прочно-
стью СА: симметрия искажений кристаллической решетки СА повышается, а их абсолютные
значения уменьшаются. Увеличение дозы облучения до D = 8 · 1019 см–2 вызывает понижение
симметрии искажений кристаллической решетки СА и увеличение их величины. Эффект сопро-
вождается уменьшением параметра кристаллической решетки СА, что является признаком
разупрочнения и разупорядочения его кристаллической структуры.
Полученные новые результаты являются основой метода неразрушающего контроля проч-
ности СА любых морфологических форм.

Использование электронных материалов, размещенных на данном сайте, осуществляется на договорной основе. Разрешается использовать ресурсы в единичном экземпляре и исключительно в личных целях.



Физико-математические науки и информатика